L'infrarouge à ondes courtes (SWIR) constitue une lentille optique spécifiquement conçue pour capturer la lumière infrarouge à ondes courtes qui n'est pas directement perceptible par l'œil humain. Cette bande est couramment désignée comme lumière avec des longueurs d'onde allant de 0,9 à 1,7 microns. Le principe opérationnel de la lentille infrarouge à ondes courtes repose sur les propriétés de transmission du matériau pour une longueur d'onde spécifique de lumière, et avec l'assistance de matériaux optiques spécialisés et de technologies de revêtement, la lentille peut efficacement conduire la lumière infrarouge à ondes courtes tout en supprimant la lumière visible et d'autres longueurs d'onde indésirables.
Ses principales caractéristiques comprennent :
1. Haute transmittance et sélectivité spectrale : Les lentilles SWIR utilisent des matériaux optiques spécialisés et des technologies de revêtement pour atteindre une haute transmittance dans la bande infrarouge à ondes courtes (0,9 à 1,7 microns) et possèdent une sélectivité spectrale, facilitant l'identification et la conduction de longueurs d'onde spécifiques de lumière infrarouge et l'inhibition d'autres longueurs d'onde de lumière.
2. Résistance à la corrosion chimique et stabilité thermique : Le matériau et le revêtement de la lentille démontrent une excellente stabilité chimique et thermique et peuvent maintenir des performances optiques sous des fluctuations de température extrêmes et diverses circonstances environnementales.
3. Haute résolution et faible distorsion : Les lentilles SWIR manifestent une haute résolution, une faible distorsion et des attributs optiques à réponse rapide, répondant aux exigences de l'imagerie haute définition.
Les lentilles infrarouges à ondes courtes sont largement utilisées dans le domaine de l'inspection industrielle. Par exemple, dans le processus de fabrication des semi-conducteurs, les lentilles SWIR peuvent détecter des défauts à l'intérieur des plaquettes de silicium qui sont difficiles à détecter sous la lumière visible. La technologie d'imagerie infrarouge à ondes courtes peut augmenter la précision et l'efficacité de l'inspection des plaquettes, réduisant ainsi les coûts de fabrication et améliorant la qualité des produits.
Les lentilles infrarouges à ondes courtes jouent un rôle vital dans l'inspection des plaquettes de semi-conducteurs. Étant donné que la lumière infrarouge à ondes courtes peut pénétrer le silicium, cette caractéristique permet aux lentilles infrarouges à ondes courtes de détecter des défauts à l'intérieur des plaquettes de silicium. Par exemple, la plaquette peut avoir des fissures dues à des contraintes résiduelles pendant le processus de production, et ces fissures, si elles ne sont pas détectées, influenceront directement le rendement et le coût de fabrication de la puce IC finale. En utilisant des lentilles infrarouges à ondes courtes, de tels défauts peuvent être efficacement discernés, favorisant ainsi l'efficacité de la production et la qualité des produits.
Dans les applications pratiques, les lentilles infrarouges à ondes courtes peuvent fournir des images à fort contraste, rendant même les défauts minimes conspicuement visibles. L'application de cette technologie de détection améliore non seulement la précision de la détection, mais réduit également le coût et le temps de détection manuelle. Selon le rapport d'étude de marché, la demande de lentilles infrarouges à ondes courtes sur le marché de la détection des semi-conducteurs augmente d'année en année et devrait maintenir une trajectoire de croissance stable dans les prochaines années.
