La lente óptica de infrarrojo de onda corta (SWIR) constituye un dispositivo específicamente diseñado para capturar luz infrarroja de onda corta que no es directamente perceptible por el ojo humano. Esta banda se designa comúnmente como luz con longitudes de onda que van de 0.9 a 1.7 micrones. El principio operativo de la lente de infrarrojo de onda corta se basa en las propiedades de transmisión del material para una longitud de onda específica de luz, y con la asistencia de materiales ópticos especializados y tecnología de recubrimiento, la lente puede conducir eficientemente la luz infrarroja de onda corta mientras suprime la luz visible y otras longitudes de onda indeseables.
Sus principales características son:
1. Alta transmitancia y selectividad espectral: Las lentes SWIR emplean materiales ópticos especializados y tecnología de recubrimiento para alcanzar alta transmitancia dentro de la banda de infrarrojo de onda corta (0.9 a 1.7 micrones) y poseen selectividad espectral, facilitando la identificación y conducción de longitudes de onda específicas de luz infrarroja y la inhibición de otras longitudes de onda de luz.
2. Resistencia a la corrosión química y estabilidad térmica: El material y el recubrimiento de la lente demuestran una estabilidad química y térmica sobresaliente y pueden mantener el rendimiento óptico bajo fluctuaciones extremas de temperatura y diversas circunstancias ambientales.
3. Alta resolución y baja distorsión: Las lentes SWIR manifiestan alta resolución, baja distorsión y atributos ópticos de respuesta rápida, cumpliendo con los requisitos de imágenes de alta definición.
Las lentes infrarrojas de onda corta se utilizan ampliamente en el ámbito de la inspección industrial. Por ejemplo, en el proceso de fabricación de semiconductores, las lentes SWIR pueden detectar fallas dentro de los obleas de silicio que son difíciles de detectar bajo luz visible. La tecnología de imagen de infrarrojo de onda corta puede aumentar la precisión y eficiencia de la inspección de obleas, reduciendo así los costos de fabricación y mejorando la calidad del producto.
Las lentes de infrarrojo de onda corta desempeñan un papel vital en la inspección de obleas de semiconductores. Dado que la luz infrarroja de onda corta puede penetrar en el silicio, esta característica permite que las lentes de infrarrojo de onda corta detecten defectos dentro de las obleas de silicio. Por ejemplo, la oblea podría tener fisuras debido a tensiones residuales durante el proceso de producción, y estas fisuras, si no se detectan, influirán directamente en el rendimiento y el costo de fabricación del chip IC final. Al aprovechar las lentes de infrarrojo de onda corta, tales defectos pueden discernirse de manera efectiva, promoviendo así la eficiencia de producción y la calidad del producto.
En aplicaciones prácticas, las lentes de infrarrojo de onda corta pueden proporcionar imágenes de alto contraste, haciendo que incluso los defectos minúsculos sean visiblemente conspicuos. La aplicación de esta tecnología de detección no solo mejora la precisión de la detección, sino que también reduce el costo y el tiempo de la detección manual. Según el informe de investigación de mercado, la demanda de lentes de infrarrojo de onda corta en el mercado de detección de semiconductores está ascendiendo año tras año y se espera que mantenga una trayectoria de crecimiento estable en los próximos años.
