Lente industrial de cámara de escaneo lineal gran angular de 14mm 8K
Productos Especificados
| Modelo | JY-LS14FL-8K | ||||
| Píxel | 8K/3.5µm 4K/7µm 2K/14µm | ||||
| Formato de Imagen | Φ30/Φ43 | ||||
| Longitud Focal | Apertura | F2.8-22 | |||
| Montura | M42x1 | ||||
| Distorsión | -0.1% | ||||
| Max Dist | Φ55*82.9 | ||||
| M.O.D | 0.2m~∞ | ||||
| FOV | |||||
| Montaje de relleno | / | ||||
| Peso | 200g | ||||
| Operación | Enfoque | Manual | |||
| Zoom | / | ||||
| Iris | Manual | ||||
| Temperatura de funcionamiento | -20℃～+60℃ | ||||
| Tamaño | |||||
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Este producto es una lente de escaneo de línea industrial de alta precisión, caracterizada por las siguientes características clave y aplicaciones típicas:
Áreas de Aplicación Típicas
Inspección Industrial de Alta Precisión
Industria de la Impresión: Permite una evaluación precisa de la consistencia del color y la integridad del patrón en la impresión a color, con la capacidad de detectar defectos finos como la distribución desigual de puntos de tinta.
Fabricación de Semiconductores: Adecuado para identificar defectos microscópicos en la superficie de los wafers, incluidos arañazos y contaminación por partículas.
Inspección de Pantallas OLED: Cuando se integra con cámaras de matriz lineal de alta resolución, facilita el análisis de defectos a nivel de píxel, mejorando así el control de calidad del producto.
Investigación Científica y Fabricación Avanzada
Ciencia de Materiales: Aplicada en la observación de la morfología de la superficie de nanomateriales y defectos microestructurales en materiales superconductores.
Ingeniería Aeroespacial: Utilizada en la evaluación no destructiva de microgrietas en componentes críticos y detección temprana del envejecimiento del material.
Ventajas Técnicas
Resolución Optimizada y Coincidencia de Píxeles: El co-diseño de resolución 8K y tamaño de píxel de 3.5 µm asegura alta claridad de imagen y reproducción excepcional de detalles.
Rendimiento Óptico Superior: Presenta baja distorsión y excelente uniformidad de imagen, cumpliendo con requisitos estrictos para mediciones de precisión.
Control de Sincronización Flexible: Soporta entrada de señal de activación externa, permitiendo un funcionamiento confiable en entornos dinámicos con velocidades de transportador variables o inconsistentes.
Especificaciones de Parámetros Principales
Resolución 8K: Con aproximadamente 7,680 píxeles horizontales, esta lente permite la captura de detalles de imagen finos, lo que la hace ideal para aplicaciones que requieren alta precisión de detección.
Tamaño de píxel de 3.5 µm: Diseñada para coincidir con sensores de alta resolución, asegura un rendimiento de imagen superior incluso en condiciones de alta densidad de píxeles.
Φ30/Φ43: Estas dimensiones probablemente se refieren al diámetro del montura de la lente o al tamaño del círculo de imagen. El estándar específico de interfaz mecánica (por ejemplo, montura C o montura F) debe ser confirmado según el modelo real.
Longitud focal de 14 mm: Con un diseño de longitud focal corta, soporta la captura de imágenes de amplio campo de visión, adecuada para tareas de inspección de áreas amplias.
Directrices de selección
Compatibilidad de la cámara: Se recomienda emparejar el objetivo con una cámara de escaneo en línea que soporte resolución 8K y tenga un paso de píxel de 3.5 µm para aprovechar al máximo sus capacidades ópticas.
Iluminación y control de movimiento: Se aconseja un sistema de iluminación altamente uniforme y una configuración de control de movimiento de alta precisión para garantizar una adquisición de imágenes consistente y estable.
Compatibilidad de la interfaz: Los usuarios deben verificar la alineación entre las especificaciones de la interfaz del objetivo (Φ30/Φ43) y los componentes de montaje mecánico y de cámara correspondientes para prevenir problemas de integración.
